Embedded World 25. bis 27. Februar 2020 - Nürnberg
E4You-Gemeinschaftsstand in Halle 4 Stand 4-338

Erfolgsgeschichte embedded world
2019 informierten sich 30.895 Fachbesucher bei den 1.117 Ausstellern auf der embedded world. Diese internationale Leitmesse wird mit Sicherheit auch in Zukunft zu den wichtigsten Marketing- und Vertriebstools der Embedded-Branche gehören. Das beweist die hohe Zufriedenheit der Besucher. Mehr als 99% der Besucher beurteilten das Fachangebot, die Informationsmöglichkeiten an den Ständen sowie die Messeorganisation ausgesprochen positiv. 41% der Besucher waren internationale Gäste, überwiegend aus der Europäische Union, aber auch aus dem übrigen Europa, Afrika, Asien, Australien/Ozeanien sowie Amerika.
E4You-Mitgliedervorträge im Rahmen der embedded world Conference
Mittwoch 26. Februar 2020
Session 3.2 II: Embedded OS IV – Linux II
14:30-15:00
Advantages of Heterogeneous SoCs in IoT Applications
Robert Goellner, DH electronics
Session 6.4 I: SW-Engineering IV – Testing & Debugging I
10:30-11:00
Fully Automated Self-test and Calibration for Hardware in the Loop Test Systems
Dr. Kristian Trenkel, iSyst Intelligente Systeme
12:00-12:30
Conclusive On-the-fly Validation of High-Level Functional Tests
Dr. Thomas Preusser, Accemic Technologies
12:30-13:00
Test the Test – Enhanced Test Quality with Mutation Testing
Michael Wittner, Razorcat Development
Session 6.4 II: SW-Engineering V – Testing & Debugging II
14:00-14:30
Non-intrusive Software Coverage Estimation for Safety-Critical System Certification
Martin Heininger, HEICON – Global Engineering
16:00 – 16:30
Debugging Complex Failures of Real-Time Multi-Core System
Albert Schulz, Accemic Technologies, Franz Münz, Airbus Defence and Space
17:00-17:30
Usage of Debugger in Hardware in the Loop Tests
Dr. Kristian Trenkel, iSyst Intelligente Systeme
Session 10.4 I: SoC IV – System Technology I
12:30-13:00
FPGA-based Modelling of Aging Effects and Implementation of IP-Cores for Wear-Out-Detection
Josef Schmid, iSyst Intelligente Systeme
Übersicht der teilnehmenden Mitglieder